大学物理厚度干涉求薄膜厚度的问题!急用~!在线等!在Si的平表面上氧化了一层厚度均匀的SiO2薄膜,为了测量薄膜厚度,将它的一部分磨成劈形,先用波长为550nm的平行光垂直照射,观察反射光形成

来源:学生作业帮助网 编辑:作业帮 时间:2024/04/27 21:24:02
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大学物理厚度干涉求薄膜厚度的问题!急用~!在线等!

在Si的平表面上氧化了一层厚度均匀的SiO2薄膜,为了测量薄膜厚度,将它的一部分磨成劈形,先用波长为550nm的平行光垂直照射,观察反射光形成的等候干涉条纹,在图中AB段共有6条暗纹,且B处恰好是一条暗纹,求薄膜的厚度!(Si折射率为3.42 SiO2折射率为1.5)

大学物理厚度干涉求薄膜厚度的问题!急用~!在线等!在Si的平表面上氧化了一层厚度均匀的SiO2薄膜,为了测量薄膜厚度,将它的一部分磨成劈形,先用波长为550nm的平行光垂直照射,观察反射光形成
等厚干涉重要的一个结论是\x08相邻条纹间隔永远是半波长
那么此题6个条纹于是7个间隔,6*1.5*550nm=5.775um[micro-meter].
这题难点在于判断六个条纹到底是几个间隔,也就是说在那个暗纹是否算在那六个之内,取6个或者7个都是可以.

两条暗纹之间高度差满足2nΔh=λ,有6条暗纹,高度为h=6Δh=2λ=1100nm

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